一种低品位菱镁矿的去杂提纯方法
本发明公开了一种低品位菱镁矿的去杂提纯方法,包括以下步骤:(1)以低品位的菱镁矿为原料,将菱镁矿进行过滤,滤掉菱镁矿中的大块杂质;(2)将菱镁矿送入粉碎机中进行粉碎,粉碎参数为:研磨气量为6~10m3/min,空气压力为1Mpa;(3)将粉碎后的菱镁矿放入反射炉、回转窑、悬浮炉、沸腾炉或隧道窑内于600~1000℃下充分焙烧;(4)将轻烧后的氧化镁加水水化、自磨;(5)最后将氢氧化镁粉末于600~900℃二次煅烧,得到去杂提纯的轻烧氧化镁粉.本发明的方法提高了氧化镁除杂效率,提高了氧化镁纯度.
- 专利类型：
- 发明专利
- 申请（专利）号：
- CN201611010449.1
- 申请日期：
- 2017-04-19
- 公开（公告）日：
- 2017-04-19
- 公开（公告）号：
- CN106565115A
- 主分类号：
- C04B2/10(2006.01)I
- 分类号：
- C04B2/10(2006.01)I；C01F5/08(2006.01)I；B82Y30/00(2011.01)I；C；B；C04；C01；B82；C04B；C01F；B82Y；C04B2；C01F5；B82Y30；C04B2/10；C01F5/08；B82Y30/00
- 申请（专利权）人：
- 营口镁质材料研究院有限公司
- 发明（设计）人：
- 曾卫军